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x射線光譜分析儀,鍍層測厚儀

簡要描述:

x射線光譜分析儀,鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計(jì)的一款新型鍍層光譜分析儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

 

x射線光譜分析儀,鍍層測厚儀儀器配置       

                                     

1    硬件:主機(jī)壹臺,含下列主要部件: 

(1)   X光管                 (2) 半導(dǎo)體探測器

(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺

(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)

(7) 上照、開放式樣品腔      (8)雙激光定位

(9) 玻璃屏蔽罩

2   軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.0

 

x射線光譜分析儀,鍍層測厚儀參數(shù)規(guī)格

 

1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U); 
2.同時檢測元素:多24個元素,多達(dá)5層鍍層;
3.分析含量:一般為2ppm99.9%;
4.鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);
5.SDD探測器:分辨率低至135eV;
6.良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達(dá)0.1mm,小光斑達(dá)0.1mm
7.樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭; 
8.準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合; 
9.儀器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm
10.樣品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm;
11.樣品臺尺寸:393Wx 258 Dmm
12.X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度:小于0.1um

 

性能特點(diǎn)

 

1.精密的三維移動平臺; 
2.的樣品觀測系統(tǒng); 
3.良好的圖像識別; 
4.輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測; 
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換; 
6.雙重保護(hù)措施,實(shí)現(xiàn)無縫防撞; 
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度。

 

安裝要求:

 

1   環(huán)境溫度要求:15-30

2   環(huán)境相對濕度:<70%

3   工作電源:交流220±5V

4   周圍不能有強(qiáng)電磁干擾。

 

廠家介紹

 

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)ROHS測試儀,液相色譜質(zhì)譜儀(LCMS,原子熒光光譜儀,x射線測厚儀,ROHS檢測設(shè)備,X射線鍍層測厚儀,氣相色譜儀,ROHS檢測儀,液相色譜儀,手持式礦石分析儀,原子吸收光譜儀,X射線熒光光譜儀,汽油中硅含量檢測儀,氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀(GCMS, ROHS儀器,手持式合金分析儀等分析儀器,涉及的儀器設(shè)備主要有Thick 8000、Thick800AEDX600、AAS 9000AAS 8000等。

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天瑞儀器成立于1992 年,以研究、生產(chǎn)、銷售X 熒光光譜分析儀起步,目前從事以光譜儀、色譜儀、質(zhì)譜儀為主的高端分析儀器及應(yīng)用軟件的研發(fā)、生產(chǎn)、銷售和相關(guān)技術(shù)服務(wù),是國內(nèi)在創(chuàng)業(yè)板上市的分析儀器企業(yè)。公司產(chǎn)品主要應(yīng)用于環(huán)境保護(hù)與安全(空氣、土壤、水質(zhì)污染檢測等)、礦產(chǎn)與資源(地質(zhì)、采礦)、商品檢驗(yàn)甚至人體微量元素的檢驗(yàn)等眾多領(lǐng)域。

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