鍍層分析儀是一款利用X射線原理對(duì)金屬鍍層(鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠……)厚度進(jìn)行無損檢測(cè)的儀器,thick800a利用上照式方式,滿足微小產(chǎn)品的測(cè)試,主要應(yīng)用于精密五...
產(chǎn)品介紹
鍍層分析儀是一款利用X射線原理對(duì)金屬鍍層(鍍金、鍍銀、鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠……)厚度進(jìn)行無損檢測(cè)的儀器,thick800a利用上照式方式,滿足微小產(chǎn)品的測(cè)試,主要應(yīng)用于精密五金、電子連接器、五金端子、螺絲等產(chǎn)品的厚度檢測(cè)。
標(biāo)準(zhǔn)配置
開放式樣品腔。
精密二維移動(dòng)樣品平臺(tái),探測(cè)器和X光管上下可動(dòng),實(shí)現(xiàn)三維移動(dòng)。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
性能特點(diǎn)
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加精準(zhǔn)
良好的射線屏蔽作用
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
技術(shù)指標(biāo)
型號(hào):Thick 800A
分析檢出限可達(dá)2ppm,薄可測(cè)試0.005μm。
分析含量一般為2ppm到99.9%
X熒光測(cè)厚儀元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)。
一次可同時(shí)分析多24個(gè)元素,五層鍍層。
鍍層厚度一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1%
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性可達(dá)0.1%
度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg
應(yīng)用領(lǐng)域
金屬鍍層的厚度測(cè)量, 電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
鍍層分析儀主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍企業(yè)、半導(dǎo)體企業(yè)、電子連接器、五金工具企業(yè)、電子電器企業(yè)。
可以測(cè)試黃金,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè).