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昆山X熒光鍍層膜厚儀Thick8000

簡要描述:

昆山X熒光鍍層膜厚儀Thick8000主要應用于金屬鍍層膜厚的檢測,鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍銀等,天瑞儀器是生產(chǎn)X熒光鍍層膜厚儀的廠家,分析儀器上市企業(yè),Thick8000是目前公司達的一款,有著良好的三維移動平臺,清晰的樣品觀測系統(tǒng),國內(nèi)品牌。

產(chǎn)品名稱

 

X熒光鍍層膜厚儀主要應用于金屬鍍層膜厚的檢測,鍍金、鍍鎳、鍍鋅、鍍銀等,天瑞儀器是生產(chǎn)X熒光鍍層膜厚儀的廠家,分析儀器上市企業(yè),Thick8000是目前公司達的一款,有著良好的三維移動平臺,清晰的樣品觀測系統(tǒng),國內(nèi)品牌。

 

硬件

 

全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭

高低壓電源

主機壹臺,含下列主要部件: 

微焦斑X光管                 

大面積SDD電制冷半導體探測器

數(shù)字多道分析器

超高精度三維移動平臺

開放式樣品腔及鉛玻璃屏蔽罩

電動調(diào)節(jié)準直器

防撞激光保護器

激光定位裝置及圖像自動對焦技術(shù)

 

軟件及其他

 

天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件

計算機、打印機各一臺

儀器使用說明書

標準附件

準直孔:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mmФ0.3mm四種(已內(nèi)置于儀器中)

 

技術(shù)指標

 

良好的微孔準直技術(shù):小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm

樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭

分析元素范圍:硫(S)~鈾(U

同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層

分析含量:一般為2ppm99.9%

鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同)

SDD探測器:分辨率低至135eV

準直器:0.3×0.05mmФ0.1mm、Ф0.2mmФ0.3mm四種準直器組合

儀器尺寸:690Wx 575Dx 660Hmm

樣品室尺寸:520Wx 395Dx150Hmm

樣品臺尺寸:393Wx 258 Dmm

X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平臺重復定位精度:小于0.1um

操作環(huán)境濕度:≤90%

操作環(huán)境溫度:15℃30℃

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