環(huán)保是世界的潮流，不斷出現(xiàn)的環(huán)境污染事件，如近日的陜西鳳翔的血鉛超標事件，使人們?nèi)找骊P(guān)注自身的健康，關(guān)注有害元素對人的危害，世界各國都陸續(xù)出臺了相 關(guān)控制商品中有害元素含量的法規(guī)，而且對有害元素的限制值呈日漸降低的趨勢，例如，2006年7月1日實施的歐盟RoHS指令中鉛元素限制值是 1000ppm,近期實施的美國消費品安全法（簡稱CPSIA），鉛元素限制值降低到90ppm。面對這市場需求，秉承“天瑞儀器，無微不至”的精神，采 用新技術(shù)，特別設(shè)計了SUPER系列的XRFX熒光光譜儀。

技術(shù)參數(shù)

1、 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）。

2、 分析含量一般為1ppm到99.9％。

3、 有害元素檢出限比普通的臺式X熒光光譜儀有很大的提高。

4、 多次測量重復(fù)性可達0.1％。

5、 長期工作穩(wěn)定性為0.1％。

6、 溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃。

7、 電源。交流220V±5V。建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

主要特點

1. 采用天瑞技術(shù)――*的激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測靈敏度(降低檢出限)；

2. 具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構(gòu)和色彩，上蓋電動控制開關(guān)，更人性化；

3. 準直器，濾光片自動切換，可適應(yīng)不同的樣品測試要求；

4. 大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測量更靈活方便；

5.配備功能齊全的測試軟件。

性能參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500
產(chǎn)品名稱：XRF熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時間：60秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg

性能特點

高效超薄窗X光管，指標達到較高水平
新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率達到100000CPS，精度更高。在合金檢測中效果更好
SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍
自動穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的*性
高信噪比的電子線路單元
針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

標準配置

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測試配件
光路增強系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動切換型準直器和濾光片
自動穩(wěn)譜裝置
三重安全保護模式
相互獨立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

鋼鐵檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素等）

廠家介紹

江 蘇天瑞儀器股份有限公司專業(yè)XRF熒光光譜儀生產(chǎn)廠家，產(chǎn)品包括：ROHS檢測儀，直讀光譜儀，手持式光譜儀，ROHS檢測設(shè)備，手持式合金分析儀，氣相 質(zhì)譜儀，液相質(zhì)譜儀，原子熒光光譜儀，手持式光譜儀，等離子體質(zhì)譜儀， 鍍層膜厚測試儀，X熒光測厚儀，ROHS儀器，氣質(zhì)聯(lián)用儀，液質(zhì)聯(lián)用儀，ROHS鹵素檢測儀，x熒光光譜分析儀，手持式光譜分析儀，氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀， 液相質(zhì)譜聯(lián)用儀，便攜式合金分析儀，ROHS測試儀，x-ray鍍層測厚儀，環(huán)保ROHS檢測儀，X光測厚儀，鍍層測厚儀。