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金鎳厚檢測儀 天瑞儀器Thick8000

簡要描述:

金鎳厚檢測儀 天瑞儀器Thick8000是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型儀器。主要應(yīng)用于:金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定;黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

 Thick 8000高精度全自動膜厚儀儀器配置                                            1    硬件:主機壹臺,含下列主要部件: (1)   X光管                 (2) 半導(dǎo)體探測器(3) 放大電路                (4) 高精度樣品移動平臺(5) 高清晰攝像頭            (6) 高壓系統(tǒng)(7) 上照、開放式樣品腔      (8)雙激光定位(9) 玻璃屏蔽罩2   軟件:天瑞X射線熒光光譜儀FpThick分析軟件V1.03   計算機、打印機各一臺計算機(品牌,P4,液晶顯示屏)、打印機(佳能,彩色噴墨打印機)4   資料:使用說明書(包括軟件操作說明書和硬件使用說明書)、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應(yīng)提供資料各一份。 Thick 8000高精度全自動金鎳厚檢測儀膜厚儀參數(shù)規(guī)格1.分析元素范圍:硫(S)~鈾(U); 
2.同時檢測元素:多24個元素,多達5層鍍層;
3.分析含量:一般為2ppm到99.9%;
4.鍍層厚度:一般在50μm以內(nèi)(每種材料有所不同);
5.SDD探測器:分辨率低至135eV;
6.良好的微孔準(zhǔn)直技術(shù):小孔徑達0.1mm,小光斑達0.1mm;
7.樣品觀察:配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭; 
8.準(zhǔn)直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合; 
9.儀器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm;
10.樣品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm;
11.樣品臺尺寸:393(W)x 258 (D)mm;
12.X/Y/Z平臺移動速度:額定速度200mm/s 速度333.3mm/s;
13.X/Y/Z平臺重復(fù)定位精度:小于0.1um;

性能特點1.精密的三維移動平臺; 
2.的樣品觀測系統(tǒng); 
3.良好的圖像識別; 
4.輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測; 
5.四種微孔聚焦準(zhǔn)直器,自動切換; 
6.雙重保護措施,實現(xiàn)無縫防撞; 
7.采用大面積高分辨率探測器,有效降低檢出限,提高測試精度。

安裝要求:1   環(huán)境溫度要求:15℃-30℃2   環(huán)境相對濕度:<70%3   工作電源:交流220±5V4   周圍不能有強電磁干擾。
 

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