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金屬鍍層測(cè)厚儀,膜厚儀THICK600

簡(jiǎn)要描述:

早期,金屬鍍層測(cè)厚儀,膜厚儀THICK600基本被國(guó)外廠家(德國(guó)費(fèi)希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶(hù)可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做金屬鍍層測(cè)厚儀,是一家專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀的廠家,在X熒光鍍層檢測(cè)方面,*打破國(guó)外的技術(shù)壟斷。天瑞推出的Thick600在精度上,可以現(xiàn)場(chǎng)與進(jìn)口儀器現(xiàn)場(chǎng)PK;在價(jià)格上,可以給用戶(hù)的優(yōu)惠;在技術(shù)支持與售后服務(wù)上,保證給到客戶(hù)的是完善的售后支持。

早期,測(cè)厚儀基本被國(guó)外廠家(德國(guó)費(fèi)希爾,日本精工,牛津等)壟斷,用戶(hù)可以選擇的廠家比較少。天瑞儀器92年開(kāi)始做金屬鍍層測(cè)厚儀,是一家專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)鍍層測(cè)厚儀的廠家,在X熒光鍍層檢測(cè)方面,*打破國(guó)外的技術(shù)壟斷。天瑞推出的Thick600在精度上,可以現(xiàn)場(chǎng)與進(jìn)口儀器現(xiàn)場(chǎng)PK;在價(jià)格上,可以給用戶(hù)的優(yōu)惠;在技術(shù)支持與售后服務(wù)上,保證給到客戶(hù)的是完善的售后支持。

 

 

測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)

 

1國(guó)標(biāo)GB/T 16921-2005/ISO 3497:2000  金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測(cè)量X射線光譜方法 2.美國(guó)標(biāo)準(zhǔn)A754/A754M-08 Coating Weight(mass)of Metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence

檢測(cè)樣品

 

日常家電,如電冰箱,洗衣機(jī),微波爐,空調(diào),吸塵器,熱水器等;家電,如音頻、視頻產(chǎn)品,DVD,CD,電視接收機(jī),IT產(chǎn)品,數(shù)碼產(chǎn)品,通信產(chǎn)品等;電動(dòng)工具,電動(dòng)電子玩具醫(yī)療電氣設(shè)備,五金衛(wèi)浴,高壓開(kāi)關(guān)、電子連接器,使用的電力,包括小型和大型家電,IT和電信設(shè)備和消費(fèi)品,如收音機(jī),電視機(jī),攝像機(jī)和音響系統(tǒng),PCB線路板、電路板等。
 

測(cè)試步驟 

 

1)              每天開(kāi)機(jī)預(yù)熱30分鐘后打開(kāi)測(cè)試軟件“FpThick”: 用戶(hù)使用“Administrator”,密碼:skyray 2)              進(jìn)入測(cè)試軟件后,選擇“測(cè)試條件” 點(diǎn)擊“確定”,即測(cè)試條件確定(儀器已設(shè)置好) 3)              選擇“工作曲線” 如待測(cè)樣品是鐵鍍鎳,則選擇Ni-Fe;其他依次類(lèi)推 4)              放入“Ag片”對(duì)儀器進(jìn)行初始化 初始化完成后,(峰通道為1105,計(jì)數(shù)率達(dá)到一定的數(shù),如300以上)。 5)              待測(cè)樣品測(cè)試 放入待測(cè)的樣品,通過(guò)攝像頭畫(huà)面觀察當(dāng)前放入的樣品的表面情況,以及儀器的X射線的聚焦點(diǎn)。可以通過(guò)軟件提供的十字坐標(biāo)(也稱(chēng)十字光標(biāo))來(lái)定位該聚焦點(diǎn),將樣品放在聚焦點(diǎn)位置。點(diǎn)擊“開(kāi)始”,輸入樣品名稱(chēng)后“確定”。 6)              測(cè)試完成后即可保持報(bào)告,報(bào)告的位置可以在桌面的“分析報(bào)告”快捷方式中的“鍍層報(bào)告”中找到。 注意:測(cè)試鍍層樣品時(shí),必須先要確定是什么鍍層、選擇好對(duì)應(yīng)的工作曲線測(cè)試。

儀器軟件:   

                                 

分析軟件簡(jiǎn)介                                   功能介紹:快速地檢測(cè)金屬電鍍層的厚度  軟件界面簡(jiǎn)潔,操作方便,無(wú)需專(zhuān)業(yè)人士操作 軟件帶有標(biāo)樣校對(duì)功能,可以采用單標(biāo)樣和多標(biāo)樣,對(duì)無(wú)標(biāo)樣的測(cè)試結(jié)果進(jìn)行校對(duì),使得測(cè)試結(jié)果更接近實(shí)際值 無(wú)標(biāo)樣分析方法(FP法),測(cè)試不受標(biāo)準(zhǔn)樣品的限制 具有自動(dòng)定性分析功能,自動(dòng)元素識(shí)別功能,方便對(duì)樣品元素的識(shí)別和定性 具有疊加虛譜功能,方便作樣品的定性對(duì)比分析  技術(shù)參數(shù) 
 

 

1   分析元素范圍:S-U 2   可分析多達(dá)3層以上鍍層 3   分析厚度檢出限達(dá)0.02μm 4   多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.05μm 5   定位精度:0.5mm 5   測(cè)量時(shí)間:30s-300s 6   計(jì)數(shù)率:1000-8000cps

7  儀器適合測(cè)試平面。以單層Fe鍍Ni的標(biāo)樣為例,分析的范圍是0.02—30um,在這個(gè)范圍內(nèi),才能檢測(cè)。0.5-10um的,偏差是5%,就是說(shuō)真值是1um,用儀器測(cè)試的值是0.95-1.05um。

 

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