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礦石光譜分析儀

簡要描述:

礦石光譜分析儀(X熒光光譜分析儀)是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、礦石對復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準確分析。

儀器介紹

 

 

 

礦石光譜分析儀(X熒光光譜分析儀)是利用XRF技術(shù)解決國內(nèi)水泥廠、鋼鐵公司、礦石對復(fù)雜成份、材料中元素的快速、準確分析。

 

該技術(shù)的主要特征為:利用低能X光激發(fā)待測元素,對Si、S、Al、Na、Mg等輕元素有良好的激發(fā)效果,并且測試時間短,大大提高了檢測效率和工作效率:采用UHRD探測器,具有良好的能量線性和能量分辨率,及良好的能譜特性,較高的峰背比;采用自動穩(wěn)譜裝置,保證了儀器工作的*性:利用解譜技術(shù)使譜峰分解,使采用UHRD探測器的分析儀對Si、S、AI等輕元素的測試具有好的分析精度;采用多參數(shù)的線性回歸方法,使元素間的吸收、排斥效應(yīng)得到明顯的降低。

 

 

 

性能特點

 

 

 

專業(yè)的水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析,亦可用于鍍層檢測和RoHS檢測。

 

內(nèi)置信噪比增強器可有效提高儀器信號處理能力25倍。

 

針對不同樣品可自動切換準直器和濾光片。

 

電制冷UHRD探測器,摒棄液氮制冷。

 

智能全元素分析軟件,與儀器硬件相得益彰,且操作簡單。

 

 

 

標準配置

 

 

 

電制冷UHRD探測器

 

信噪比增強器

 

光路增強系統(tǒng)

 

內(nèi)置高清晰攝像頭

 

可自動切換型準直器和濾光片

 

精準的升降平臺

 

加強的金屬元素感度分析器

 

外觀尺寸: 650×608×466 mm

 

樣品腔尺寸:?315×95mm

 

重量:105kg

 

 

 

技術(shù)指標

 

 

 

測量元素范圍:從鈉(Na)至鈾(U)

 

元素含量分析范圍:1ppm—99.99%

 

同時分析元素:24種元素同時分析

 

功能范圍:水泥、鋼鐵、礦料等全元素分析

 

分析精度:0.05% (對含量96%以上元素)

 

測量對象狀態(tài):粉末、固體、液體

 

測量時間:60s—200s 

 

能量分辨率為:(150±5)eV 

 

管壓:5KV—50KV

 

管流:50uA—1000uA

 

 

 

應(yīng)用領(lǐng)域

 

 

 

礦石光譜分析儀主要測試高爐渣、生鐵、燒結(jié)礦、球團礦、白云石、膨潤土、石灰石、普硅等,還可以廣泛應(yīng)用于銅合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、鈷合金、不銹鋼等金屬樣品的成分分析。

 

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